| 번호 | 품명 | 모델 | 제조회사 | 가능여부 |
|---|---|---|---|---|
| 14236 | XENON TEST CHAMBER | Xe-3-HS | Q-SUN | 가능(사내교정) |
| 14237 | XENON TEST CHAMBER | Q-SUN XE-3-HS | Q-LAB | 가능(사내교정) |
| 14238 | X590 하부 내경검사 JIG | NONE | 대진테크 | 불가능(사내교정) |
| 14239 | X-선 도금두께측정기 | iEDX-200AT | NONE | 불가능(사내교정) |
| 14240 | X-Y RECORDER | 3025 | YOKOGAWA | 가능(사내교정) |
| 14241 | X-Y RECORDER | 3023 | YOKOGAWA | 가능(사내교정) |
| 14242 | X-RAY VOID TEST MASTER JIG | NONE | (주)쎄크 | 불가능(사내교정) |
| 14243 | X-RAY VOID MASTER JIG (6 POINT) | NONE | SEC | 불가능(사내교정) |
| 14244 | X-RAY VOID MASTER JIG (6 POINT) | NONE | (주)쎄크 | 불가능(사내교정) |
| 14245 | X-RAY VOID MASTER JIG (6 POINT) | NONE | 쎄크 | 불가능(사내교정) |
| 14246 | X-RAY THICKNESS STANDARD | Ag 9.26 μm | S II | 불가능(사내교정) |
| 14247 | X-RAY THICKNESS STANDARD | Ni 5.55 μm | S II | 불가능(사내교정) |
| 14248 | X-RAY THICKNESS STANDARD | Ni 2.08 μm | NONE | 불가능(사내교정) |
| 14249 | X-RAY THICKNESS STANDARD | Ni 2.02 μm | NONE | 불가능(사내교정) |
| 14250 | X-RAY THICKNESS STANDARD | Ni 19.2 μm | S II | 불가능(사내교정) |